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单点薄膜厚度测量系统
产品概述: 由KLA公司生产的Filmetrics薄膜厚度测量仪是世界上先进的桌上型薄膜厚度量测系统,F-20因其便捷性,高性价比成为Filmetrics系统中的畅销型号。销售联系方式:陈正毅 18918393229。
产品简介:

由KLA公司生产的Filmetrics薄膜厚度测量仪是世界上先进的桌上型薄膜厚度量测系统,F-20因其便捷性,高性价比成为Filmetrics系统中的畅销型号。

无论是测量薄膜的厚度、光学性能,还是材料的反射率或透射率,F20都满足了您的要求。设备安装仅需连接USB,结果便可在几秒钟获得。

技术参数:

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主要应用:

其模块化的性质,F20可以适应多种应用:

厚度、折射率、反射率、透射率的测量:

单层或多层堆叠薄膜

衬底材料  

液体薄膜或空气间隙

适用于多种薄膜状态的测量,包括:

在平面或曲面上

现场尺寸缩小到20微米

量测样品种类:

几乎任何光滑的、半透明的或轻微吸收的薄膜都可以测量。这包括大多数介质和半导体。例如:

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